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什么是ATE測試?

來源: 時間:2019-03-28 16:01:44 瀏覽次數(shù):

ATE是Automatic Test Equipment(自動化測試設(shè)備)的英文縮寫,是一種通過計算機(jī)控制進(jìn)行器件、電路板和子系統(tǒng)等測試的設(shè)備。通過計算機(jī)編程取代人工勞動,自動化的完成測試序列。 ATE在60年代早期始于快捷半導(dǎo)體(Fairchild)。
ATE是Automatic Test Equipment(自動化測試設(shè)備)的英文縮寫,是一種通過計算機(jī)控制進(jìn)行器件、電路板和子系統(tǒng)等測試的設(shè)備。通過計算機(jī)編程取代人工勞動,自動化的完成測試序列。    
     ATE在60年代早期始于快捷半導(dǎo)體(Fairchild)。 那時Fairchild生產(chǎn)門電路器件(如14管腳雙列直插與非門IC)和簡單的模擬集成電路器件(如6管腳雙列直插運(yùn)算放大器)。當(dāng)時對于器件量產(chǎn)測試是一個很大的問題。 Fairchild開發(fā)了計算機(jī)控制的測試設(shè)備,如5000C用于簡單模擬器件測試,Sentry 200用于簡單門電路器件測試。兩種機(jī)器都是由Fairchild自主開發(fā)的計算機(jī)FST2進(jìn)行控制。FST2是一種簡單的24位,10MHz計算機(jī)。 
   70年代早期,器件開發(fā)由小規(guī)模集成電路過渡到中規(guī)模集成電路,又于80年代早期從大規(guī)模集成電路過渡到超大規(guī)模集成電路。對于器件制造商來說,這時計算機(jī)控制的測試系統(tǒng)已經(jīng)成為主要的測試設(shè)備。Fairchild開發(fā)了Sentry 400, Sentry 600, Sentry 7, Sentry 8測試系統(tǒng)用于數(shù)字器件測試。 
   80年代中期,門陣列器件開發(fā)成功,測試方面要求達(dá)到256管腳,速度高于40MHz。 針對這一需求,F(xiàn)airchild 試圖開發(fā)Sentry 50,但是失敗了。Fairchild將其ATE部門賣給斯倫貝謝,成為斯倫貝謝測試系統(tǒng)公司。    Fairchild將測試系統(tǒng)賣給斯倫貝謝以后,許多專家離開了Fairchild加入Genrad,成立了Genrad西海岸系統(tǒng)公司。GR16 和 GR18數(shù)字測試系統(tǒng)由這里誕生了。這些新型的測試系統(tǒng)每個管腳有獨(dú)立的測試資源,管腳數(shù)最多達(dá)144。不久這些工程師離開Ganrad成立了Trillium測試系統(tǒng),并將其賣給LTX。之后這些工程師又離開了LTX,他們中的一些加入了科利登(Credence),其它人加入了其他的ATE公司。 同一時期,泰瑞達(dá)的自動化測試設(shè)備在模擬測試和存儲器測試方面占據(jù)統(tǒng)治地位。