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ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開發(fā)、設(shè)計(jì)各類自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。
一、ATE測(cè)試
由DMM，程控電源，DAQ Card, 單片機(jī)，繼電器，PLC，氣缸，F(xiàn)ixture等組成的電信號(hào)自動(dòng)采集系統(tǒng)，廣泛運(yùn)用于ICT,FCT等測(cè)試設(shè)備。軟件部分采用NI LABView編寫，全自動(dòng)依次采集并判定PASS/FAIL,自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)表并上傳數(shù)據(jù)庫(kù).
二、ATE測(cè)試-手機(jī)測(cè)試
手機(jī)硬件級(jí)結(jié)構(gòu)性能測(cè)試 ，采用LabVIEW圖形化編程語(yǔ)言和TestStand測(cè)試管理軟件開發(fā)平臺(tái)對(duì)手機(jī)進(jìn)行按鍵老化測(cè)試、按鍵靈敏度測(cè)試、開短路測(cè)試、LCD背光及按鍵背光測(cè)試、RF測(cè)試、電流電壓測(cè)試、翻蓋測(cè)試、扭矩測(cè)試等。
三、ATE測(cè)試-汽車電子測(cè)試
隨著半導(dǎo)體及軟件技術(shù)的快速發(fā)展，汽車電子在汽車產(chǎn)業(yè)中所占比例越來越大。從汽車的舒適性到穩(wěn)定性乃至安全性的實(shí)現(xiàn)中，汽車電子產(chǎn)品都擔(dān)任著至關(guān)重要的角色，并且正發(fā)揮著越來越廣泛的作用。
采用LabVIEW圖形化編程語(yǔ)言和TestStand測(cè)試管理軟件開發(fā)或基于MCU、PLC平臺(tái)對(duì)汽車藍(lán)牙、胎壓、防盜安全控制、無線鑰匙、倒車影像系統(tǒng)、倒車?yán)走_(dá)、燈光控制等進(jìn)行測(cè)試，能有效提高產(chǎn)品質(zhì)量、加快生產(chǎn)周期、降低生產(chǎn)成本等。
一、ATE測(cè)試
由DMM，程控電源，DAQ Card, 單片機(jī)，繼電器，PLC，氣缸，F(xiàn)ixture等組成的電信號(hào)自動(dòng)采集系統(tǒng)，廣泛運(yùn)用于ICT,FCT等測(cè)試設(shè)備。軟件部分采用NI LABView編寫，全自動(dòng)依次采集并判定PASS/FAIL,自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)表并上傳數(shù)據(jù)庫(kù).
二、ATE測(cè)試-手機(jī)測(cè)試
手機(jī)硬件級(jí)結(jié)構(gòu)性能測(cè)試 ，采用LabVIEW圖形化編程語(yǔ)言和TestStand測(cè)試管理軟件開發(fā)平臺(tái)對(duì)手機(jī)進(jìn)行按鍵老化測(cè)試、按鍵靈敏度測(cè)試、開短路測(cè)試、LCD背光及按鍵背光測(cè)試、RF測(cè)試、電流電壓測(cè)試、翻蓋測(cè)試、扭矩測(cè)試等。
三、ATE測(cè)試-汽車電子測(cè)試
隨著半導(dǎo)體及軟件技術(shù)的快速發(fā)展，汽車電子在汽車產(chǎn)業(yè)中所占比例越來越大。從汽車的舒適性到穩(wěn)定性乃至安全性的實(shí)現(xiàn)中，汽車電子產(chǎn)品都擔(dān)任著至關(guān)重要的角色，并且正發(fā)揮著越來越廣泛的作用。
采用LabVIEW圖形化編程語(yǔ)言和TestStand測(cè)試管理軟件開發(fā)或基于MCU、PLC平臺(tái)對(duì)汽車藍(lán)牙、胎壓、防盜安全控制、無線鑰匙、倒車影像系統(tǒng)、倒車?yán)走_(dá)、燈光控制等進(jìn)行測(cè)試，能有效提高產(chǎn)品質(zhì)量、加快生產(chǎn)周期、降低生產(chǎn)成本等。
